CT Semiconductor cung cấp các phương pháp kiểm định độ tin cậy dựa trên ứng suất và kiểm định độ tin cậy dựa trên kiến thức chuyên sâu, được xây dựng theo các tiêu chuẩn công nghiệp quốc tế.
Các kỹ thuật kiểm định độ tin cậy bao gồm:
-
Kiểm tra tuổi thọ hoạt động ở nhiệt độ cao (HTOL – High Temperature Operating Life Test)
-
Kiểm định độ bền trong môi trường ẩm và nhiệt độ cao có điện áp (Bias HAST)
-
Kiểm định HAST không điện áp (unBias HAST)
-
Thử nghiệm sốc nhiệt (Thermal Shock)
-
Kiểm định tiền xử lý (Preconditioning)
-
Kiểm định độ ẩm và nhiệt độ có điện áp (THB – Temperature Humidity Bias)
-
Kiểm định độ bền nhiệt – ẩm tăng tốc (HAST – Highly Accelerated Temperature Humidity Stress Test)
-
Kiểm tra tĩnh điện (ESD – HBM, CDM và Air Discharge)
-
Và nhiều phương pháp khác.
Chúng tôi có thể tùy chỉnh điều kiện thử nghiệm để phù hợp với yêu cầu kiểm định của từng sản phẩm, đảm bảo độ tin cậy và hiệu suất tối ưu.
